我們的模塊化科研級Nanolog穩瞬態熒光光譜儀是專門為納米技術和納米材料的研究而設計的。
Nanolog?系列熒光光譜儀是專門為納米技術和納米材料等前沿研究而設計的。可實現幾毫秒內獲得完整光譜，幾秒內獲得而完整的激發發射三維矩陣。
基于世界公認的Fluorolog?技術，Nanolog?除可實現紫外和可見光區域內熒光檢測外，也可在800-1700nm的近紅外范圍內檢測熒光信號（可選擇多通道檢測至2um，單通道檢測至3um。Nanolog?配有專門設計的軟件Nanosizer，是對SWNTs、量子點等納秒材料進行分類和能量傳遞計算的理想選擇。
概要：
技術特點
超快三維光譜采集速度（在幾秒鐘內即可快速完成激發-發射矩陣掃描）
陣列InGaAs檢測器具有近紅外高靈敏度
高分辨率
實現SWNTs種類和系列的鑒定和量化分析
兼容從紫外到近紅外等各種檢測器
光電倍增管可現在最高靈敏度和時間分辨分析
CCD和陣列InGaAs檢測器可實現數據快速采集
量子點混合物能量傳遞實驗研究
模塊化設計
配置：
450 W 連續氙燈，用于從紫外到近紅外區域激發
幾秒鐘完成激發-發射三維矩陣掃描
InGaAs陣列檢測器。800-1700nm；256 x 1,512 x 1和1024 x 1三種像素格式，間距小至25 μm；噪聲低至650 erms，液氮制冷以獲得最佳信噪比；可選擇電制冷；擴展檢測范圍選項（1.1 - 2.2 μm）。
iHR320成像光譜儀：焦距=320mm；f/4.1；色散=2.31nm/mm；分辨率=0.06nm（帶狹縫）；軟件控制的三層光柵塔輪（所有測量均采用1200 grove/mm的光柵
可提供固態近紅外檢測器，紫外到近紅外的光電倍增管，時間相關單光子計數的壽命測試（100ps到1ms，紫外到近紅外），門控技術的壽命測試（1μs到>10s，紫外到近紅外），以及頻域壽命測量（10ps到10μs，紫外到近紅外）。
光路圖
應用：
NonoLog進行碳納米管的熒光光譜研究  單壁碳納米管(SWNTs)是一種由碳原子卷成的單層碳納米管，近年來受到了廣泛的關注。 | SWNTs的發光研究  | |
碳納米管更好信噪比光譜的獲得  修正的碳納米顆粒發射光譜1可以提供激發波長范圍內的激發-發射矩陣(EEMs)。 | 量子點近紅外光致發光檢測  HORIBA Jobin Yvon的NanoLog?熒光光譜儀，專門為納米材料的近紅外熒光檢測而優化，包括雙光柵激發單色儀、帶可選光柵轉臺的成像發射光譜儀和多種探測器 | |
量子點光致發光光譜檢測  量子點在光電子學、生物傳感、生物標記、存儲器件和激光光源等領域都有著潛在的應用。 | 使用NanoLog獲得更好的碳納米管數據  HORIBA Scientific NanoLog?是為研究單壁碳納米管(SWCNTs)的而設計的熒光光譜儀。 | |
熒光各向異性法測量二氧化硅納米顆粒  二氧化硅是目前最重要的工業材料之一，其納米顆粒是通過溶膠—凝膠過程形成的。 | NanoLog系列：新一代性能之作 NanoLog?被譽為檢測單壁碳納米管（SWCNT）的首選儀器 |
Nanosizer? 軟件
Nanosizer? - 用于單壁碳納米管激發-發射三維矩陣圖譜的模擬和分析
Origin? Pro 8 的Nanosizer?簡化了單壁碳納米管激發-發射三維圖譜的模擬和分析過程。Nanosizer與我們的Nanolog熒光光譜儀一起使用，使用具有專利技術的雙卷積算法，專門為單壁碳納米管手性和直徑的分析而設計。
Nanosizer? 會進行SWNT近紅外激發-發射熒光光譜數據模擬，同時與所測實際數據進行比較。根據內置數據庫，Nanosizer?可以迅速將特定的峰值定義到特定的SWNT（n,m）結構，還可生成螺旋結構圖。同時，Nanosizer?大大簡化了SWNT的FRET研究、長度分布分析和納米管純化分析。除此之外，Nanosizer?還可提供適合支持未來ISO和ASTM標準的平臺，用于識別和提純半導體的SWNTs。
完美用于SWNT中的FRET、長度分布分析和純化應用分析
OriginPro? 8中Nanosizer?的特點和優勢
高效的區域選擇和初始模型參數化
峰數量幾乎無限制
峰值參數的全局鏈接和固定
所有模型峰值參數的全面約束
快速模型參數化
實現多種二維分析光譜圖形狀：高斯、洛倫茲和Voigt卷積
殘差統計加權
全功能的擬合峰參數統計分析
擬合結果和殘差的圖形化和表格化顯示
以能量（cm-1，eV）或波長（nm）為單位的擬合數據
將峰值參數與用戶可編輯的庫（包含螺旋角、直徑和(n,m)分布圖和表格）進行比較
為ISO和ASTM標準設計用于半導體SWNT識別/定量